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2012.06.30

D-0057. 1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫! — FN

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1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫!

発行:エスオーエル株式会社
http://www.sol-j.co.jp/

連載「知って得する干渉計測定技術!」
2012年6月30日号 VOL.057

平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。
干渉計による精密測定やアプリケーション開発情報などをテーマに、
無料にてメールマガジンを配信いたしております。

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皆様こんにちは!

(( メルマガ登録会員の皆さまは、エスオーエル名物「○○○ごと」をご覧頂けます! ))


今回のメルマガのテーマは
『1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫!』です。

機械部品や半導体基板等は測定したい面が1つの場合が多いです。

しかし、ワークによって同一平面上で複数面の平面度を測定し、
全面を管理する必要があるものもあります。
もちろん、FlatMasterであれば、一つ一つの面の平面度を個別に
1つの測定データとして出すことも可能です。
また、マスキング機能を使用して、必要な面だけを抽出することも
可能です。面状態は、面の粗いラップ面からポリッシュ・ミラー面
まで測定可能です。

測定面が一つであろうが複数個あろうが、測定面が大きかろうが小
さかろうが測定時間は同じです。(測定範囲内であるが条件ですが)

①ワークのセットは測定治具の上にポンッと置くだけ。参照平面
 との平行だしが簡単でレベル出しの必要なし!
②測定ボタンをクリックするだけで、全面一括でデータ取得可能!
③約10秒で測定・解析が完了。約30秒で測定データ出力可能!
④丸でも三角でも四角でもどんな形のサンプルでも問題なし!

この4項目を満たしているのはFlatMasterシリーズのみです!!


ご興味を持っていただけましたら、
エスオーエルにご相談下さい。一緒に問題解決していきましょう!
また、こんな事はできるの?というご質問もお待ちしております。

今回のメルマガを読んで、ご興味を持って頂ければ幸いです。

最後まで見てくださった方々、ありがとうございます!


--
F.N

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