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測定サンプルの種類
ウェーハ用製品
シリコン(Si)
干渉計による非接触の平面度(平坦度)測定で実績のある装置をご提案いたします。
![FlatMaster-Semi Auto Wafer](img/img_01_1.png)
FlatMaster-
Semi Auto Wafer
![UltraSort II](img/img_01_2.png)
UltraSort II
※最先端の300mmウェーハ用測定機 → お問い合わせ下さい。
お問い合わせはこちら
化合物(SiC、Lt、GaN、Ga2O3 など)
干渉計による非接触の平面度(平坦度)測定で実績のある装置をご提案いたします。
![FlatMaster-Semi Auto Wafer](img/img_01_3.png)
FlatMaster-
Semi Auto Wafer
![UltraSort II](img/img_01_4.png)
UltraSort II
透明品(ガラス、水晶、サファイア など)
透明ウェーハでも、干渉計による平面度(平坦度)測定が可能です。
![FlatMaster-Semi Auto Wafer](img/img_01_5.png)
FlatMaster-
Semi Auto Wafer
![UltraSort II](img/img_01_6.png)
UltraSort II
![FlatMaster MSP-Glass](img/img_01_7.png)
FlatMaster
MSP-Glass
フォトマスク
![UltraFlat](img/img_02_1.png)
UltraFlat
プレート、フレーム
![FlatMaster-Industrial](img/img_03_1.png)
FlatMaster-Industrial
機械部品
平面のみ
![FlatMaster-Industrial](img/img_04_1.png)
FlatMaster-Industrial
段差
![FlatMaster MSP](img/img_04_2.png)
FlatMaster MSP
内部
![TomoScope](img/img_04_3.png)
TomoScope
三次元寸法
カメラや接触/非接触プローブを組合せたマルチセンサ方式による座標測定機(三次元測定機)です。
![VideoCheck](img/img_04_4.png)
VideoCheck
![ScopeCheck](img/img_04_5.png)
ScopeCheck
幾何公差
![FlatMaster-Industrial](img/img_04_6.png)
FlatMaster-Industrial
![FlatMaster MSP](img/img_04_7.png)
FlatMaster MSP
![VideoCheck / ScopeCheck](img/img_04_8.png)
VideoCheck
/ ScopeCheck
![TomoScope](img/img_04_9.png)
TomoScope
樹脂成型品
X線CT(コンピュータトモグラフィ)による内部計測が可能です。
![TomoScope](img/img_05_1.png)
TomoScope