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    X線CT装置におけるAI活用の可能性

   「知って得するWerth新情報」
    2026年09月18日号　VOL.G-0007
    https://a13.hm-f.jp/cc.php?t=M800966&c=6593&d=ab05
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今夏に開催されたinVISION Day Metrology 2026では、
X線CT装置におけるAI活用の可能性と課題について議論が行われました。

Werth社のCT営業責任者であるTristan Schubert氏は、
「幻覚的なAI解析ではなく、工程信頼性とトレーサビリティ」 と題した講演を行い、
CT計測におけるAIの可能性と限界を紹介しました。

講演では、AIは短時間スキャン画像の補完や欠陥検出において有効である一方、
元データに含まれていない情報を補ってしまう可能性があることが示されました。
その結果、本来存在する隙間が埋まって見えたり、配線形状などの細部が
実際とは異なって再構成されたりするおそれがあります。
そのため、寸法評価や高い信頼性が求められる計測においては、
AIの活用には慎重な判断が必要であると指摘されました。

一方で、バッテリーセルの検査やTGV測定のような分野では、
従来技術のみでも高速かつ高精度な検査が可能であり、
AIはあくまで補助的な役割として活用するのが有効であると説明されました。

また、講演後に行われたオンラインのパネルディスカッションでは、
Werthの社長も参加し、計測技術の将来について活発な意見交換が行われました。

議論の中では、AIは計測の基本そのものを置き換えるものではなく、
作業の効率化や自動化、そして現場担当者の支援を進めるための
有力な手段である、という認識が共有されました。

さらに今後の重要な方向性として、
製品や設備を事前にシミュレーションして確認すること、
機械の異常を早めに把握して保守につなげること、
測定方法をより柔軟にすることなどが挙げられました。

そのうえで、将来どのような技術が広がったとしても、
結果の正しさを確認できること、測定の根拠をたどれること、
そして信頼できる形で検証できることが、計測にとって最も重要である
という点で意見が一致しました。

動画のリンクも添付しておりますので、
ご興味がございましたら、ぜひご視聴ください。
https://a13.hm-f.jp/cc.php?t=M800967&c=6593&d=ab05

製品の詳細については、弊社ホームページをご覧ください

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